بررسی اثر انرژی کندوپاش بر روی خواص ساختاری و اپتیکی نانولایه های نازک اکسید نقره
thesis
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه تربیت مدرس - دانشکده علوم انسانی
- author زهرا صدر ممتاز
- adviser مجید مجتهدزاده لاریجانی
- Number of pages: First 15 pages
- publication year 1390
abstract
اکسید نقره به جهت کاربردهای الکتریکی ، اپتیکی و مگنتو اپتیکی که در ذخیره کننده های اطلاعات دارد به طور گسترده مورد مطالعه قرار گرفته است. فرم های گزارش شده برای اکسید نقره عبارتند از:ago ،ag2o ،ag3o4 و ag2o3 می باشند که از این میان ag2o به لحاظ ترمودینامیکی پایدار تر است. باند گاف انرژی وسیعی که در گستره ev 2/1 تا ev 4/3 قرار دارد به تکنیک های مختلف لایه نشانی، فازهای بلوری و نسبت های شیمیایی مختلف عناصر وابسته است. در این پایان نامه ، لایه های نازک اکسید نقره که با استفاده از روش کندوپاش یونی فعال در دمای 100 درجه سانتیگراد (373 کلوین) با استفاده از مخلوط گازی اکسیژن و آرگون روی زیرلایه های شیشه ای نشانده شده اند. در حالیکه نسبت نرخ جریان گاز در ثابت نگه داشته شده است ، ولتاژ کندوپاش از 300 ولت تا 600 ولت تغییر داده شده است. ساختار و فاز لایه ها با استفاده از آنالیز پراش پرتو x بررسی شده اند. مورفولوژی سطح لایه های نشانده شده با استفاده از آنالیزهای afm و sem صورت گرفت. با توجه به داده های afm افزایش ولتاژ منجر به افزایش اندازه دانه ها و کاهش زبری سطوح می شود.ضخامت لایه ها با استفاده از ضخامت سنجی بررسی شده است. نتایج حاصل نشان می دهند که با افزایش ولتاژ ضخامت لایه ها افزایش می یابد. خواص اپتیکی لایه ها با استفاده از آنالیزهای اسپکتروفوتومتری uv-vis-nir و بیضی سنجی مورد مطالعه قرار گرفته است. با توجه به نتایج این آنالیزها با افزایش ولتاژ عبور و ضریب شکست لایه ها کاهش می یابد در حالیکه ضریب خاموشی افزایش می یابد.
similar resources
بررسی تاثیر شیوه خشک سازی بر خواص اپتیکی فیلم های نازک نانو ساختاری اکسید نیکل
The nanostructured nickel oxide thin films were prepared by dip coating sol – gel method. Three methods (drying with oven, IR and microwave) have used for drying the films. The effect of drying method on the optical, molecular, electrical, structural, and morphology properties of the films were studied by Uv-Visible spectrophotometry, Fourier Transform Infrared spectroscopy, Hall effect, X-ray ...
full textبررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع
در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت‌های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...
full textبررسی اثر پالس بر خواص ساختاری و اپتیکی لایه‌های نازک اکسید مولیبدن در لایه‌نشانی به روش کندوپاش مغناطیسی پالس قدرت بالا (HiPIMS)
In this study, molybdenum oxide thin films are deposited by using high power impulse magnetic sputtering (HiPIMS) at different pulses length of 60, 90, 120, 150 and 180 μs on glass substrates in a combination of reactive and non-reactive gases with a ratio of O2/Ar = 0.66. The structural and optical properties of these coatings are studied. The chemical composition of these metal oxides is dete...
full textبررسی تاثیر شیوه خشک سازی بر خواص اپتیکی فیلم های نازک نانو ساختاری اکسید نیکل
فیلمهای نازک نانو ساختاری اکسید نیکل با روش غوطه وری سل- ژل تهیه شدند. از سه روش (تابش فروسرخ، آون و مایکروفِر) برای خشک کردن فیلمها استفاده شد. اثر روش خشکسازی روی خواص اپتیکی، مولکولی، الکتریکی، ساختاری و مورفولوژی فیلمها به ترتیب بهوسیله طیف سنج نوری مریی- فرابنفش، طیفسنج تبدیل فوریه فروسرخ، اثر هال، پراش پرتو x، میکروسکوپ نیروی اتمی، و میکروسکوپ الکترونی روبشی مورد بررسی قرار گرفت. ثاب...
full textبررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع
در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (xrd) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (xrr) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...
full textMy Resources
document type: thesis
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه تربیت مدرس - دانشکده علوم انسانی
Hosted on Doprax cloud platform doprax.com
copyright © 2015-2023